GIE Mediaのラウンドテーブル「Today's Metrology」にエクスロン社員のDirk Steinerが参加

エクスロンのビジネス開発マネージャであるDirk Steinerは、2004年から産業用コンピュータトモグラフィーに深く関わり、1,000以上のデータセットをスキャンして解析しています。GIE MediaのToday's Metrology Live Webinarに参加し、専門家のパネリストとして開催されたラウンドテーブルをご覧ください。  このラウンドテーブルでは、エクスロンと計測に関連する他のテクノロジーメーカーが参加し、ソリューションの全体像を把握することができました。
 
Dirkは、産業用CT(コンピュータ断層検査)を使用した計測の最新トレンドと、効率向上とコスト削減のために多くのメーカーが求めている情報を見出すにはデータが重要であることを説明しました。最も重要なことは、メーカーが最高品質の製品を提供することです。このウェビナーでは、産業用CTがどのようにこれを実現するのかについて、十分な情報を提供しました。 
 
CTは非触覚的な手法なので、プロセス中に形状を変更することはありません。内部構造を見ることができ、現在では⾦属3Dプリントの大きなトレンドとなっているため、設計や印刷に制限がありません。CTを使えば、内部を見ることができ、陥没面や部品の中に隠れているものまで測定することができます。さらに、計測とは関係ない内部欠陥のデータも得られます。一石二鳥ですね。


 
 
会場から多くの質問が寄せられました。ディスカッションはこちらからご覧いただけます。



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Gina Naujokat
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